安鉑LBUT30超聲波探傷儀：

主要功能：

l利用標(biāo)準(zhǔn)試塊自動生成DAC、AVG曲線，取樣點不受限制，并可進(jìn)行補償與修正

l自動顯示回波相關(guān)參數(shù)（深度D、水平P、距離S、波幅H）

l自由切換三種標(biāo)尺（深度D、水平P、距離S）

l 100個獨立探傷通道，可自由輸入并存儲任意行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn)（可擴展）；

l可存儲500幅A形圖形、參數(shù)（可根據(jù)用戶需求擴展）；

l自動計算缺陷當(dāng)量φ值，峰值記憶功能；

l兩種探測方式：峰值、邊沿；

l三種探頭方式：單晶、雙晶、穿透；

l自動匹配阻尼，智能化操作快速探傷，閘門自動報警；

l可根據(jù)實際工件生成自定義探傷工藝，現(xiàn)場探傷無需攜帶試塊。

產(chǎn)品特點

l鋰電池供電，工作時間8小時；

l堅固耐用，防水防塵，抗干擾能力優(yōu)良；

l大屏幕高亮顯示，可以滿足在陽光下、涵洞中探傷的要求。

技術(shù)參數(shù): 標(biāo)準(zhǔn)配置:

名稱

技術(shù)數(shù)據(jù)

掃描范圍（mm）

0～6000

垂直線性誤差

≦3%

水平線性誤差

≦0.1%

探傷靈敏度余量

≧60dB（深200mmφ2平底孔）

動態(tài)范圍

≧32dB

分辨率

≧40dB

頻率范圍（MHz）

0.5～20

增益調(diào)節(jié)（dB）

0～120

材料聲速（m/s）

1000～9999

回波抑制

0～80%

工作溫度（℃）

-27～70

重量（Kg）

1.2