本儀器針對(duì)IC卡在各種試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲,扭距的試驗(yàn),采用的同步帶傳動(dòng),非接觸式光電計(jì)數(shù),15工位同時(shí)測(cè)量,大大提高了儀器的精度和使用壽命.用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡等卡的彎曲和扭曲性能.
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