產(chǎn)品特點(diǎn)：

適用于低飽和場、低Hc磁性薄膜材料的磁性能研究，在電磁鐵類的鐵芯剩磁效應(yīng)方面可以準(zhǔn)確定出H=0的點(diǎn)，特別適用于鐵磁/反鐵磁界面的磁性釘扎效應(yīng)研究，諸如釘扎型自旋閥薄膜、釘扎型磁性隧道結(jié)構(gòu)的薄膜、AMR效應(yīng)的玻莫合金磁性膜等；

由于設(shè)備中的檢測線圈在不用時(shí)可以任意抬起而不占有效磁場的空間，從而可充分利用該設(shè)備的磁場作AMR、GMR、JMR等磁電阻特性測量；

此設(shè)備適用軟磁薄膜的磁特性測量，作為研究生的測量實(shí)驗(yàn)，也可給學(xué)生提供MS、s、Mr、Hc、Hs、Hd、等許多磁學(xué)概念，開闊學(xué)生的知識(shí)面。

技術(shù)指標(biāo)：

直流磁場源：亥姆赫茲線圈或電磁鐵可選；

Hmax(Oe)0～±400；

電磁鐵磁場0.5T；

靈敏度（emu）3～40*10；

掃描電源輸出10A(5),自動(dòng)掃描或手動(dòng)掃描；

音頻電磁振動(dòng)頭，振動(dòng)頭三維調(diào)節(jié)。