半導(dǎo)體HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)An全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。利型packing，箱內(nèi)壓力愈大時(shí)，packing會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式完全不同，可延長packing壽命。

半導(dǎo)體HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

型號 ：pct-35 pct-45pct-55pct-65

內(nèi)箱尺寸(㎝)：Φ35×45Φ45×55Φ55×65Φ65×75

溫度範(fàn)圍：100℃～135℃

濕度範(fàn)圍：RH飽和蒸汽

壓力範(fàn)圍：大氣壓+0～4㎏/cm2 大氣壓+0～4㎏/cm2 大氣壓+0～4㎏/cm2 大氣壓+0～4㎏/cm2

參考標(biāo)準(zhǔn)：完全依據(jù)國標(biāo)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等

備註：可根據(jù)客戶要求定制相應(yīng)尺寸

半導(dǎo)體HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn)：

1．試驗(yàn)過程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束、使用簡便。

2．雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí)，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源。

3．ED數(shù)字型溫度控制器可作Jing確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示，PID控制誤差±0.1℃。

4．ED數(shù)字型計(jì)時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)完全。

5．Jing準(zhǔn)的壓力、溫度對照顯示。

6．運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動(dòng)排出未飽和蒸汽以達(dá)到佳蒸汽品質(zhì)。

7．試驗(yàn)過程中水位不足時(shí)能自動(dòng)補(bǔ)充水位之功能，試驗(yàn)不中斷，確保使用An全。

8．鍋內(nèi)An全裝置，鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無法啟動(dòng)。

9．An全閥，當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過大工作值自動(dòng)排氣泄壓。

10．門蓋保護(hù)，ABS材質(zhì)製成可防止操作人員接觸。

11．一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

半導(dǎo)體HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱注意事項(xiàng)：

1、在無試驗(yàn)負(fù)荷、無層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測定的性能。

2、關(guān)于溫度上升及下降時(shí)間是指風(fēng)冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃±5℃,時(shí)所測量的性能。

3、溫濕度傳感器設(shè)置于空調(diào)箱出風(fēng)口處。

4、溫濕度均勻度定義為：實(shí)驗(yàn)室?guī)缀沃行狞c(diǎn)處，溫濕度時(shí)的所測之資料。

5、以上數(shù)據(jù)性能，測量，計(jì)算方法參照GB5170、2、GB5170、5的方法測定。

半導(dǎo)體HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：

半導(dǎo)體HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱又稱高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)，廣泛應(yīng)用于線路板，多層線路板，IC，CD，磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其製品的耐厭性，氣密性。